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光學薄膜測量儀
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高利通生產的GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀，由高利通自主設計生產的紫外光譜儀、光學氣體測量臺、紫外光源和算法等組成。該GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀具有可切換雙光路精密光學系統，獨特的反射式準直光路設計可以有效避免透射式準直光路所固有的色差,使儀器具有分辨率更高，波長準確度高，重復性好和操作便捷等特點。本公司可根據客戶要求,提供定制服務。
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●具有良好結構設計和可切換雙光路光學系統
●可完成對樣品的透過率、反射率的測量
●獨特的長光程光路設計，使儀器分辨率更高
●強大的數據處理功能,使測試結果能得到充分的應用，用戶編輯更為簡單快捷
●波長準確度高，重復性好
●穩定性、可靠性更強，分析更加準確
●軟件控制儀器，功能完善，操作便捷和維護方便
●批量生產的工業級產品：優異的一致性、穩定性和可靠性
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項目 指標 波長范圍 190-800nm 光譜分辨率 FWHM0.84nm @577nm@25μm狹縫 雜散光 0.06%@532nm/0.045%@785nm 積分時間 8ms-15min 電源 220V/0.7A USB數據線 USB 光譜儀配置 自動配置包括讀標定參數 數據輸出 灰度值隨波長或CCD像素變化 操作軟件 SPEC-GLA600 (高利通) 尺寸 450mmx300mmx207mm 重量 ~6.5Kg 工作溫度 0-45°C
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●玻璃、鏡片檢測
●光學鍍膜檢測
●手機屏/膜/殼檢測
●汽車減光膜檢測
●眼鏡檢測
●科技研發
●客戶定制等
