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光學薄膜測量儀
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高利通生產的GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀,由高利通自主設計生產的紫外光譜儀、光學氣體測量臺、紫外光源和算法等組成。該GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀具有可切換雙光路精密光學系統,獨特的反射式準直光路設計可以有效避免透射式準直光路所固有的色差,使儀器具有分辨率更高,波長準確度高,重復性好和操作便捷等特點。本公司可根據客戶要求,提供定制服務。